宝马会网址

聚焦瑞凯,通报情况检测行业新静态

功率半导体器件操纵凹凸温干冷尝试箱做稳态干冷高压偏置尝试

作者: salmon范 编辑: 瑞凯仪器 来历: kang328.cn 宣布日期: 2021.08.23

    1、规模

    本标准给出了功率半导体器件稳态干冷高压偏置尝试体例,用以评估非气密封装的功率半导体器件在高温高湿情况下耐受高电压的靠得住性。

    本标准岂但合用于硅功率器件,也合用于碳化硅及氮化家功率器件。

功率半导体器件操纵凹凸温干冷尝试箱做稳态干冷高压偏置尝试

    2、标准性援用文件

    以下文件对本文件的操纵是必不可少的。但凡申明日期的援用文件,仅申明日期的版本合用于本文件。但凡不申明日期的援用文件,其最新版本(包罗一切的点窜单)合用于本文件。
    GB/T 2423.50情况尝试第2局部:尝试体例尝试Cy:恒定干冷首要用于元件的加快尝试。
    IEC 60749-5半导体器件―机器和天气尝试体例—第5局部:稳态干冷偏置寿命尝试(Semiconductor devices —Mechanical and climatic test methods —Part 5: Steady-statetemperature humidity bias life test)

    3、普通性申明

    该项尝试经由进程施加高温和高湿度前提,加快水汽穿透外部掩护资料(如环氧外壳或硅胶掩护层)或外部掩护资料和器件金属管脚的交壤面。
    高温水汽一旦穿透器件外壳或外壳与器件管脚的交壤面,到达芯片外表,就会在高电压的感化加快芯片的劣化。
    本尝试属于粉碎性尝试。

    4、尝试装配请求

    4.1凹凸温干冷尝试箱
    凹凸温干冷尝试箱的参数应知足以下请求:
    a)应知足表1中给出的温度和绝对湿度前提,并最少坚持2000小时不中断;
    b)在回升到划定的尝试前提和从划定的尝试前提规复到常温进程中,凹凸温干冷尝试箱应能够或许供给受控的温度和绝对湿度前提;
    c)凹凸温干冷尝试箱应颠末计量,温度的最大许可误差小于±2℃,湿度的最大许可误差小于±5%RH;
    d)凹凸温干冷尝试箱内发生的冷凝水应不时排挤,且不能反复操纵;
    e)冷凝水不许可滴落在尝试样品上;
    f)凹凸温干冷尝试箱要具有与外界的电气毗连接口。
    4.2高压直流电源
    a)直流电源的最高输入电压不低于受试器件额外电压的80%;b)直流电源应颠末计量,输入电压最大许可误差±2%。
    4.3加湿用水
    a)应利用室温下电阻率不低于1×105Ω·cm的蒸馏水或去离子水,PH值应在6.0~7.2之间。
    b)在将水装入加湿器之前,应答凹凸温干冷尝试箱外部各局部(包罗装配在凹凸温干冷尝试箱内的夹具)停止洗濯;每次尝试后,应将加湿器和凹凸温干冷尝试箱中的水全数洗濯清洁。
    4.4最小净化物开释
    为了削减尝试装备本体及箱体内其余帮助装配在高温高湿情况下发生的净化物对受试样品的影响,防止非干冷身分形成的侵蚀,应当真挑选所用到的尝试装配的材质,如应挑选在高温高湿情况下性子不变的资料来制作老化板、测试工装及散热器,防止这些装配开释无害物资对被试样品形成净化。
    4.5受试器件摆放
    受试器件在凹凸温干冷尝试箱内的摆放地位应尽能够不影响箱内的氛围活动,从而使得箱体内的温度和湿度坚持平均。
    4.6防止高压放电
    为了防止尝试进程中发生高压放电,被试样品施加偏置电压的端子之间应坚持充足的宁静间隔,若是没法扩展间隔,则要采用其余绝缘办法。
    4.7器件发烧节制
    因为本尝试须要施加高压偏置,受试器件的漏电流会比施加高压偏置时高,由此发生的功耗会使外部芯片温度降低。当芯片温度高于凹凸温干冷尝试箱情况温度<5℃时,受试器件能够不必装配散热器。即便装配散热器,芯片温度依然跨越凹凸温干冷尝试箱情况温度5℃或5℃以上,应把芯片温度与尝试情况温度的差值记实在尝试成果中,加快的生效机理将遭到影响。

    5、尝试前提及严格品级

    尝试前提由温度、绝对湿度、偏置电压和施加偏置电压的延续时候构成。严格品级由尝试延续时候决议。除非还有划定,应从表1中给出的延续时候中拔取严格品级。

尝试前提及严格品级

    6、法式

    受试器件应以必然的体例装配、裸露在表1划定的温湿度情况中,并施加划定的偏置电压。器件应防止裸露于过热、枯燥或致使器件和工装夹具上发生冷凝水的情况中,特别在尝试应力回升和降落进程中。
     6.1预处置
    合用时,应根据相干标准停止预处置。
    6.2初始检测
    尝试样品应根据相干标准划定,停止外表查抄和电气参数测试。
    6.3 回升
    到达不变的温度和绝对湿度的时候应少于3h。经由进程保障在全部尝试时候内凹凸温干冷尝试箱的干球温度跨越湿球温度来防止发生冷凝。
    6.4降落
    降落时候应不跨越3h。经由进程保障在全部尝试时候内凹凸温干冷尝试箱的干球温度跨越湿球温度来防止发生冷凝。
    6.5器件外部湿气不变时候
    因为湿气穿透器件外壳并到达芯片外表须要必然的时候,是以当凹凸温干冷尝试箱内情况温度和湿度到达不变后,应延续坚持直至湿气完全到达芯片外表。
     因为环氧树脂相较于硅胶,其抵抗湿气进入的才能强很多,是以对环氧树脂封装器件不变时候不少于336h,硅胶封装器件不变时候不少于24h。
    6.6 尝试计时
     器件按6.5的请求停止充实不变后,起头施加划定的偏置电压,此时尝试计时起头。当到达划定的延续时候,温湿度起头降落时计时竣事。
    6.7施加偏置电压
     器件按6.5的请求停止充实不变后,起头施加划定的偏置电压。当尝试竣事且规复实现后,再将偏置电压移除。施加偏置电压时,若受试器件为绝缘栅双极晶体管(IGBT)或场效应晶体管(MOSFET),其栅极和发射极或栅极和源极之间应靠得住短路或施加负压。
    6.8中间检测
    若是请求停止中间检测,当检测实现后,应从头按6.5的请求充实不变后,再施加偏置电压并从头计时。
    6.9 最初检测
    尝试竣事,尝试样品规复常温后,在48h内应根据相干标准划定,停止外表查抄和电气参数测试。

    7、生效判据

    若是器件不能经由进程划定的终究测试,或根据合用的推销文件和数据表中划定的一般和极限情况中不能考证其功效时,器件视为生效。

    8、尝试报告中应给出的信息

    尝试报告最少应给出以下信息:

    a)检测尝试室的称号和地点;

    b)客户的称号和地点;

    c)根据的检测标准号及版本号;

    d)所用检测装备的标识(称号、型号、独一性标识等);

    e)合用时,应给出装备的校准有用期;

    f)检测样品的描写、状况和明白的独一性标识;

    g)检测样品的领受日期和检测日期;

    h)尝试延续时候;
    i)初始、中间和最初检测;
    j)偏置前提;
    k)不变时候;
    l)在尝试时代若是芯片温度高于凹凸温干冷尝试箱情况温度5℃以上时芯片的温度;
    m)对检测体例的偏离、增加或删省,和特定检测前提的信息,如情况前提;
    n)合用时,应包罗对合适(或不合适)领受判据和(或)标准的申明。
【相干保举】
检查概况 + 下一条 高压蒸煮尝试(PCT )

东莞市瑞凯情况检测仪器无限公司 版权一切

备案号:

征询热线:400-088-3892 手艺撑持:瑞凯仪器 百度统计

接洽咱们

  • 邮箱:riukai@kang328.cn
  • 手机:189 3856 3648
  • 座机:0769-81019278
  • 公司地点:东莞市横沥镇西城产业园二区B19号

存眷咱们

  • <a title="微信公家号" target="_blank" href="javascript:void(0);"></a>客服微信
  • <a title="瑞凯仪器客服" target="_blank" href="javascript:void(0);"></a>存眷官方公家号